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手机可靠性测试标准分享
日期：2024-05-21 12:42
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摘要：
手机行业可靠性检测是不可少的，那么手机可靠性测试有哪些项目标准呢，下面有弘宝技术部对手机可靠性测试标准分享
1、 目的 此可靠性测试标准的目的是尽可能的挖掘设计、制造过程中潜在的问题，在正式投产之前找到改善的方法并解决上述问题点，为正式生产在产品质量上作必要的保证；并检测产品是否具备设计上的成熟性，使用上的可靠性。具体包括新产品的实验，物料的实验以及例行抽检实验等。
2、 适用范围 此标准只适合辉烨通讯技术有限公司生产的移动通讯产品。
3、 可靠性测试项目及方法
3.1 高温储存试验 试验目的：检验产品在高温环境条件下存储的适应性。 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机带电池及电池后盖，不插SIM卡关机状态 以正常位置放进试验箱内。使试验箱在30分钟内温度达到70±2℃，温度稳定后持续48小时。持续期满后将试验样机在正常大气条件下放置2小时，之后对试验样机进行试验后检查。 判定标准：通过基本功能测试，外观及结构正常。
3.2 低温储存试验 试验目的：检验产品在低温环境条件下存储的适应性。
试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机（需包装）带电池及电池后盖，不插SIM 卡关机状态以正常位置放进试验箱内。使试验箱在30分钟内温度达到-20±3℃，温度稳定后持续48小时。持续期满后将试验样机在正常大气条件下放置2小时，之后对试验样机进行试验后检查。 判定标准：通过基本功能测试，外观及结构正常。
3.3 高温工作试验 试验目的：检验产品在高温环境条件下使用的适应性 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机带电池及电池后盖，插上SIM卡及T卡， 处于待机状态（滑/翻盖处于打开状态），以正常位置放进试验箱内。使试验箱在30分钟内温度达到55±2℃，温度稳定后持续8小时。持续期满后立即对测试样机进行试验后检查。 判定标准：通过基本功能测试，外观及结构正常。
3.4 低温工作试验 试验目的：检验产品在低温环境条件下使用的适应性 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样机：2~4PCS
试验内容：试验样机带电池及电池后盖，插上SIM卡及T卡， 处于待机状态（滑/翻盖处于打开状态），以正常位置放进试验箱内。使试验箱在30分钟内温度达到-20±3℃，温度稳定后持续8小时。持续期满后立即对测试样机进行试验后检查。 判定标准：通过基本功能测试，外观及结构正常。
3.5 滑盖寿命试验 试验目的：验证机壳材料、FPC、滑轨的寿命以及滑盖组件结构 的配合寿命。 试验设备：滑盖寿命测试机 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机带电池及电池后盖，插上SIM卡，处于待 机状态；以25~35次/分的速度滑动滑盖，来回为一次；要求滑盖须达到*大活动位置及*小活动位置；每2万次进行外观功能全检。试验总数为10万次（出货为6万次）。 判定标准：滑盖寿命至少10万次；外观和结构正常，未有明显 的裂纹/破损；无明显异常响声；允许打开时有阻滞感，打开滑盖后整个滑盖组件可前后左右轻微晃动；必须通过基本功能测试。
3.6 翻盖寿命试验 试验目的：验证机壳材料、FPC、转轴的寿命以及翻盖组件结构
的配合寿命。 试验设备：翻盖寿命测试机 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机带电池及电池后盖，插上SIM卡，处于待 机状态；以25~35次/分的速度翻动翻盖，来回为一次；要求翻盖须达到*大活动位置；每2万次进行外观功能全检。试验总数为10万次（出货为6万次）。 判定标准：翻盖寿命至少10万次；外观和结构正常，未有明显 的裂纹/破损；无明显异常响声；允许打开时有阻滞感，打开翻盖后整个翻盖组件可前后左右轻微晃动；必须通过基本功能测试。手机可靠性测试标准分享
3.7 静电放电抗扰度试验 试验目的：检验产品的抗静电性能 试验设备：静电仪、综测仪 试验样机：2~4PCS 试验内容：
1）试验环境为温度15 ~35ºC；湿度30~60%RH
2）试验时要求手机处于开机充电通话状态，在正负 电压、带与不带充电器、翻/滑盖闭合与滑开几种状态下试验。
3）对于裸露在机身表面的金属部分使用接触放电， 其他区域则使用空气放电；每个测试点放电10次为一组，共进行两组。
4）空气放电标准为±8KV；接触放电标准为±4KV。
5）试验完毕检查手机的各项基本功能，并进行电性 能检查。 判定标准：样机出现功能暂时性（失效时间大于3秒）或长久 性失效（故障不恢复）判为不合格。样机出现闪屏或3秒内可自行恢复之故障判为合格。 样机出现射频对比测试数据异常（接收报告电平与 功率相差大于3）判为不合格。样机出现严重外观**(如镜片及装饰牌等严重掉漆)，应判定为不合格。
3.8 10㎝裸机微跌试验 试验目的：检验产品在使用中产生轻微撞击的适应性。 试验设备：手机跌落测试机 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机插SIM卡开机，翻/滑盖机闭合状态；跌落 面为铝板；跌落高度为10㎝；跌落方式：样机6个面每面跌落500次为一循环，共4个循环；每完成一个循环检查一次试验样机的外观及基本功能；测试速度为15次/分； 判定标准：通过基本功能测试，未有明显的裂纹/破损，内部无 零件松动或异常。
3.9 1m裸机跌落试验
试验目的：检验产品多次跌落的适应性 试验设备：手机跌落测试机 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机插SIM卡处于通电待机状态，从1m高度（如 果LCM面积超过手机表面积60%，跌落高度为50㎝），初速度为0并自由跌落于光滑混凝土地面上；6个面，每个面跌落2次，共12次（翻盖机型增加跌翻盖打开2面，8个面共16次）；试验结束对试验样机进行**检测。 判定标准：通过基本功能测试，未有明显的裂纹/破损，内部无 零件松动或异常。
3.10 1.5m裸机跌落试验 试验目的：检验产品多次跌落的适应性 试验设备：手机跌落测试机 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机插SIM卡处于通电待机状态，从1.5m高度 （如果LCM面积超过手机表面积60%，跌落高度为75㎝），初速度为0并自由跌落于光滑混凝土地面上；6个面，每个面跌落2次，共12次（翻盖机型增加跌翻盖打开2面，8个面共16次）；试验结束对试验样机进行**检测。 判定标准：通过基本功能测试，未有明显的裂纹/破损，内部无零件松动或异常。以上就是手机可靠性测试标准分享
1、 目的 此可靠性测试标准的目的是尽可能的挖掘设计、制造过程中潜在的问题，在正式投产之前找到改善的方法并解决上述问题点，为正式生产在产品质量上作必要的保证；并检测产品是否具备设计上的成熟性，使用上的可靠性。具体包括新产品的实验，物料的实验以及例行抽检实验等。
2、 适用范围 此标准只适合辉烨通讯技术有限公司生产的移动通讯产品。
3、 可靠性测试项目及方法
3.1 高温储存试验 试验目的：检验产品在高温环境条件下存储的适应性。 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机带电池及电池后盖，不插SIM卡关机状态 以正常位置放进试验箱内。使试验箱在30分钟内温度达到70±2℃，温度稳定后持续48小时。持续期满后将试验样机在正常大气条件下放置2小时，之后对试验样机进行试验后检查。 判定标准：通过基本功能测试，外观及结构正常。
3.2 低温储存试验 试验目的：检验产品在低温环境条件下存储的适应性。
试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机（需包装）带电池及电池后盖，不插SIM 卡关机状态以正常位置放进试验箱内。使试验箱在30分钟内温度达到-20±3℃，温度稳定后持续48小时。持续期满后将试验样机在正常大气条件下放置2小时，之后对试验样机进行试验后检查。 判定标准：通过基本功能测试，外观及结构正常。
3.3 高温工作试验 试验目的：检验产品在高温环境条件下使用的适应性 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机带电池及电池后盖，插上SIM卡及T卡， 处于待机状态（滑/翻盖处于打开状态），以正常位置放进试验箱内。使试验箱在30分钟内温度达到55±2℃，温度稳定后持续8小时。持续期满后立即对测试样机进行试验后检查。 判定标准：通过基本功能测试，外观及结构正常。
3.4 低温工作试验 试验目的：检验产品在低温环境条件下使用的适应性 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样机：2~4PCS
试验内容：试验样机带电池及电池后盖，插上SIM卡及T卡， 处于待机状态（滑/翻盖处于打开状态），以正常位置放进试验箱内。使试验箱在30分钟内温度达到-20±3℃，温度稳定后持续8小时。持续期满后立即对测试样机进行试验后检查。 判定标准：通过基本功能测试，外观及结构正常。
3.5 滑盖寿命试验 试验目的：验证机壳材料、FPC、滑轨的寿命以及滑盖组件结构 的配合寿命。 试验设备：滑盖寿命测试机 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机带电池及电池后盖，插上SIM卡，处于待 机状态；以25~35次/分的速度滑动滑盖，来回为一次；要求滑盖须达到*大活动位置及*小活动位置；每2万次进行外观功能全检。试验总数为10万次（出货为6万次）。 判定标准：滑盖寿命至少10万次；外观和结构正常，未有明显 的裂纹/破损；无明显异常响声；允许打开时有阻滞感，打开滑盖后整个滑盖组件可前后左右轻微晃动；必须通过基本功能测试。
3.6 翻盖寿命试验 试验目的：验证机壳材料、FPC、转轴的寿命以及翻盖组件结构
的配合寿命。 试验设备：翻盖寿命测试机 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机带电池及电池后盖，插上SIM卡，处于待 机状态；以25~35次/分的速度翻动翻盖，来回为一次；要求翻盖须达到*大活动位置；每2万次进行外观功能全检。试验总数为10万次（出货为6万次）。 判定标准：翻盖寿命至少10万次；外观和结构正常，未有明显 的裂纹/破损；无明显异常响声；允许打开时有阻滞感，打开翻盖后整个翻盖组件可前后左右轻微晃动；必须通过基本功能测试。手机可靠性测试标准分享
3.7 静电放电抗扰度试验 试验目的：检验产品的抗静电性能 试验设备：静电仪、综测仪 试验样机：2~4PCS 试验内容：
1）试验环境为温度15 ~35ºC；湿度30~60%RH
2）试验时要求手机处于开机充电通话状态，在正负 电压、带与不带充电器、翻/滑盖闭合与滑开几种状态下试验。
3）对于裸露在机身表面的金属部分使用接触放电， 其他区域则使用空气放电；每个测试点放电10次为一组，共进行两组。
4）空气放电标准为±8KV；接触放电标准为±4KV。
5）试验完毕检查手机的各项基本功能，并进行电性 能检查。 判定标准：样机出现功能暂时性（失效时间大于3秒）或长久 性失效（故障不恢复）判为不合格。样机出现闪屏或3秒内可自行恢复之故障判为合格。 样机出现射频对比测试数据异常（接收报告电平与 功率相差大于3）判为不合格。样机出现严重外观**(如镜片及装饰牌等严重掉漆)，应判定为不合格。
3.8 10㎝裸机微跌试验 试验目的：检验产品在使用中产生轻微撞击的适应性。 试验设备：手机跌落测试机 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机插SIM卡开机，翻/滑盖机闭合状态；跌落 面为铝板；跌落高度为10㎝；跌落方式：样机6个面每面跌落500次为一循环，共4个循环；每完成一个循环检查一次试验样机的外观及基本功能；测试速度为15次/分； 判定标准：通过基本功能测试，未有明显的裂纹/破损，内部无 零件松动或异常。
3.9 1m裸机跌落试验
试验目的：检验产品多次跌落的适应性 试验设备：手机跌落测试机 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机插SIM卡处于通电待机状态，从1m高度（如 果LCM面积超过手机表面积60%，跌落高度为50㎝），初速度为0并自由跌落于光滑混凝土地面上；6个面，每个面跌落2次，共12次（翻盖机型增加跌翻盖打开2面，8个面共16次）；试验结束对试验样机进行**检测。 判定标准：通过基本功能测试，未有明显的裂纹/破损，内部无 零件松动或异常。
3.10 1.5m裸机跌落试验 试验目的：检验产品多次跌落的适应性 试验设备：手机跌落测试机 试验样机：2~4PCS 试验内容：试验样机插SIM卡处于通电待机状态，从1.5m高度 （如果LCM面积超过手机表面积60%，跌落高度为75㎝），初速度为0并自由跌落于光滑混凝土地面上；6个面，每个面跌落2次，共12次（翻盖机型增加跌翻盖打开2面，8个面共16次）；试验结束对试验样机进行**检测。 判定标准：通过基本功能测试，未有明显的裂纹/破损，内部无零件松动或异常。以上就是手机可靠性测试标准分享
